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| 海外公開試 ─ 學能傾向測驗 SAT |
簡介
學能傾向測驗（Scholistic Aptitude Test）為美國公開試，由美國大學委員會(College Board)委託教育測驗服務社(Education Testing Service)定期舉行的世界性測驗；用以評核學生入讀大學的參考條件。
考試形式
SAT共分為兩卷：
• SAT I : (三小時推理多項選擇題) 為英語及數學能力之考試，共有兩個部份：Verbal Section及Math section， 每部份之最高分數為800分。
• SAT II: (一小時多項選擇題) 為一般科目之考試，有語言、數學、生物、化學、物理、歷史等共22科，考生最多可報考三科。考生需參考所報讀之大學的要求而報考有關科目。
考試日期
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考試日期 |
截止報名日期 |
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2003年10月11日 |
2003年9月9日 |
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2003年11月1日 |
2003年9月26日 |
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2003年12月6日 |
2003年10月30日 |
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2004年1月24日 |
2003年12月23日 |
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2004年5月1日 |
2004年3月25日 |
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2004年6月5日 |
2004年4月29日 |
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報名方法
• 考生可親身前往國際教育協會索取考試資料及申請表
• 學生可透過郵寄、電話或傳真報名
• 或透過互聯網 (http://www.sat.org 或 http://www.collegeboard.org) 於網上登記
• 美國以外之考生須付海外考試手續費美金$ 17
• 以電話報名須多付美金$10
• 傳真報名則須多付美金$ 15
考試費用
• SAT I 考試費為美金$28.5 (已包括基本註冊費)
• SAT II 考試費為每科美金$8-16及註冊費美金$16
查詢
國際教育協會（TOEFL / SAT）
地址：中環德輔道中156-164 號
通用商業大廈601-602室
電話：2603 5771
傳真：2603 5765
網址：http://www.iiehongkong.org
資料來源：學友社 |
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